MIS-4D 絕緣電阻測(cè)試儀|日本萬(wàn)用MULTI
	
 
  產(chǎn)品詳情
  MIS-4D 絕緣電阻測(cè)試儀|日本萬(wàn)用MULTI|絕緣電阻測(cè)試儀MIS-4D 的詳細(xì)介紹 
生產(chǎn)廠家: 日本萬(wàn)用MULTI 
產(chǎn)品說明: 測(cè)試規(guī)格 
額定測(cè)試電壓:125V/250V/1000V 
有效最大顯示值:20MΩ/50MΩ/2000MΩ 
中央顯示值:1.0MΩ/2.0MΩ/50.0MΩ 
測(cè)試精度 
額定/有效最大顯示值 測(cè)試范圍 容許誤差 
50V/10MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.01MΩ ≤5MΩ ±5%以下 
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.005MΩ ≤0.01MΩ ≥5MΩ ≤10MΩ ±10%以下 
模擬式,有效范圍外 ±30%以下 
125V/20MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.02MΩ ≤10MΩ ±5%以下 
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.01MΩ ≤0.02MΩ ≥10MΩ ≤20MΩ ±10%以下 
模擬式,有效范圍外
 ±30%以下
 
250V/50MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.05MΩ ≤20MΩ ±5%以下 
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.02MΩ ≤0.05MΩ ≥20MΩ ≤50MΩ ±10%以下 
模擬式,有效范圍外 ±30%以下 
500V/100MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.1MΩ ≤50MΩ ±5%以下 
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.05MΩ ≤0.1MΩ ≥50MΩ ≤100MΩ ±10%以下 
模擬式,有效范圍外 ±30%以下 
1000V/2000MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥2.0MΩ ≤500MΩ ±5%以下 
第二次有效測(cè)試范圍:≥1.0MΩ ≤2.0MΩ ≥10MΩ ≤2000MΩ ±10%以下
 
基本規(guī)格 
工作溫濕度:0~40℃,80%RH以下化 
(以不結(jié)露為準(zhǔn)) 
保存溫濕度:-10~60℃,70%RH以下 
(以不結(jié)露為準(zhǔn)) 
使用電池:5號(hào)電池×6 
最小工作電池電壓:DC6.3V 
耐 電 壓:A3700V/1分鐘(電路~外盒之間) 
外形尺寸:170 (長(zhǎng))×105 (寬)×52 (高)mm 
重 量:350g(不含電池) 
規(guī) 格:JIS C.1302絕緣電阻測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn) 
 
 
  
 
 
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